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公司基本資料信息
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DSO5000Lab集成電路與半導(dǎo)體測(cè)試教學(xué)實(shí)訓(xùn)平臺(tái)
技術(shù)參數(shù)
序號(hào) |
名稱 |
技術(shù)要求及說明 |
價(jià)格 |
1 |
總體 要求 |
本平臺(tái)適用于電子線路。測(cè)試技術(shù)導(dǎo)論,、虛擬儀器技術(shù),、電子線路課程、自動(dòng)化測(cè)試導(dǎo)論,、集成電路設(shè)計(jì)基礎(chǔ),、集成電路測(cè)試基礎(chǔ)、集成電路測(cè)試導(dǎo)論,、電路系統(tǒng)設(shè)計(jì)與開發(fā)實(shí)踐,、半導(dǎo)體測(cè)試基礎(chǔ)教學(xué)、微電子實(shí)訓(xùn)及競(jìng)賽等應(yīng)用場(chǎng)合,。 本平臺(tái)虛擬儀器功能包括:數(shù)字存儲(chǔ)示波器,、函數(shù)與任意波形發(fā)生器、邏輯分析儀,、數(shù)字萬(wàn)用表,、程控電源、多功能數(shù)據(jù)記錄儀,、場(chǎng)強(qiáng)儀,、晶體管圖示儀、頻率特性分析儀和頻譜分析儀功能,。 本平臺(tái)能完成集成電路設(shè)計(jì),、集成電路功能測(cè)試以及具有工業(yè)實(shí)際應(yīng)用的序列測(cè)試。 本平臺(tái)具有半導(dǎo)體晶片和芯片的電參數(shù)測(cè)試功能,,能完成電壓,、電流、電阻以及電容電壓特性曲線等參數(shù)的檢測(cè),。特別適合微電子封裝技術(shù)的教學(xué)和實(shí)訓(xùn),。 本平臺(tái)可以完成基于功能性電路的仿真、設(shè)計(jì)與測(cè)試 項(xiàng)目設(shè)計(jì)、基于分立元器件的序列測(cè)試項(xiàng)目設(shè)計(jì),、基于PCI的自動(dòng)化測(cè)試項(xiàng)目設(shè)計(jì),。 本平臺(tái)可使學(xué)生掌握虛擬儀器系統(tǒng)的基本構(gòu)成及基本設(shè)計(jì)思想,,學(xué)習(xí)應(yīng)用圖形化語(yǔ)言進(jìn)行編程和設(shè)計(jì),掌握LabVIEW軟件的應(yīng)用,。以基于LabVIEW的虛擬儀器開發(fā)平臺(tái)為基礎(chǔ),,學(xué)習(xí)掌握LabVIEW編程環(huán)境,、編程方法,、數(shù)據(jù)采集,、信號(hào)分析與處理等方面的內(nèi)容,。同時(shí)在掌握基本理論知識(shí)和編程方法的基礎(chǔ)上,,能夠從測(cè)量問題的本身出發(fā),,通過題目分析、電路組成等設(shè)計(jì)合理的測(cè)量方案,,本平臺(tái)和相應(yīng)的硬件設(shè)施,,解決實(shí)際的測(cè)量問題。培養(yǎng)學(xué)生自己動(dòng)手組建自動(dòng)測(cè)試系統(tǒng)的能力,。 |
基本配置 價(jià)格電詢
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主 實(shí)驗(yàn) 箱 |
1.交流電源輸入:220V±10%50Hz,; 2.工作環(huán)境溫度:-10℃~+40℃; 3.直流電源輸出:+3.3V,、+5V,、-5V、+12V,、-12V,; 4.實(shí)驗(yàn)面包板尺寸:170*46mm; 5.DUT接口基座:2個(gè),; 6.BNC座:4個(gè),; 7.香蕉座:4個(gè); 8.USB座:N+2,; 9.實(shí)驗(yàn)箱尺寸:520x330x140mm,; 10.終端測(cè)試平臺(tái):i5處理器,32G內(nèi)存,,512固態(tài)快速存儲(chǔ)硬盤,,23英寸顯示器。 |
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虛擬 儀器 數(shù)字 存儲(chǔ) 示波 器 |
1.模擬帶寬:100MHz,; 2.通道數(shù):4通道,; 3.實(shí)時(shí)采樣率:1GSa/s; 4.存儲(chǔ)深度:64K,; 5.時(shí)基精度:±50ppm,; 6.時(shí)基范圍:2ns/div-1000s/div; 7.輸入阻抗:1MΩ,25pF ,; 8.輸入耦合:AC/DC/GND,; 9.輸入靈敏度范圍;2mV/div~10V/div,; 10.垂直分辨率:8Bit; 11.垂直位移范圍,;2mV~10V/div@x1probe,; 20mV~100V/div@x10probe; 12.直流增益精度:±3%,; 13.最大輸入電壓:400V (DC+AC Peak),; 14.觸發(fā)類型:單次、自動(dòng),、正常,; 15.觸發(fā)模式:邊沿、交替,、脈寬,、視頻; 16.波形計(jì)算:+,、-,、x、÷,、FFT,、反向; 17.觸發(fā)源:CH1,、CH2,、CH3、CH4,; 18.光標(biāo)測(cè)量:Horizontal,Vertical,Cross,; 19.FFT:Rectangular,Hanning,Hamming,Blackman Window; 20.自動(dòng)測(cè)量:Vpp,Vamp,Vmax,Vmin,Vtop,Vmid,Vbase, Vavg,Vrms,Vcrms,Preshoot,Overshoot,Frequency, Period,Rise Time,Fall Time,Positive Width,Negative Width,Duty Cycle,; |
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4 |
虛擬 儀器 函數(shù) 與 任意 波形 發(fā)生 器 |
1.通道數(shù):1通道,; 2.信號(hào)輸出頻率范圍:DC~25MHz; 3.分辨率:0.1%Freq,; 4.波形幅度:±3.5Vmax,; 5.輸出阻抗:50 Ω; 6.輸出電流:50mA Ipeak=50mA,; 7.DAC時(shí)鐘:2K~200MHz 可調(diào),; 8.波形長(zhǎng)度:2K; 9.垂直分辨率:12位; 10.波形穩(wěn)定度:<30ppm,; |
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5 |
虛擬 儀器 邏輯 分析 儀 |
1.輸入信號(hào)通道數(shù):16路,; 2.采樣頻率:400MSa/s(4路),200MSa/s(8路),,100MSa/s(16路) 3.連續(xù)可調(diào)的閾值電壓范圍 0.5V~+4.5V,; 4.輸入電壓范圍:-30V~+30V; 5.輸入阻抗:250KΩ; 6.測(cè)量信號(hào)帶寬:50MHz,; 7.存儲(chǔ)深度:16M,; 8.最大狀態(tài)采樣時(shí)鐘:50MHz; |
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虛擬 儀器 數(shù)字 萬(wàn)用 表 |
1.直流電壓測(cè)量可選檔位:60mV,、600mV,、6V、60V,、800V,; 2.交流電壓測(cè)量可選檔位:60mV、600mV,、6V,、60V、800V,; 3.直流電流測(cè)量可選檔位:60mA,、600mA、6V,、10A,; 4.直流電流測(cè)量可選檔位:60mA、600mA,、6V,、10A; 5.電阻測(cè)量可選檔位:600Ω,、6K,、60K、600K,、6M,、60M; 6.電容測(cè)量可選檔位:40nF,、400nF,、4uF、40uF,、400uF,; 7.二極管測(cè)試:支持,; 8.通斷蜂鳴:支持; 9.自動(dòng)量程:支持,; 10.各路均帶電路保護(hù),; |
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7 |
虛擬 儀器 程控 可調(diào) 電源 |
1.電壓輸出通道:1路; 2.電壓輸出范圍: 0~+32V,; 3.電流輸出范圍:0~1A Max,; 4.電源調(diào)節(jié)方式:軟件動(dòng)態(tài)程控輸出; |
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8 |
多 功能數(shù)據(jù) 記錄儀 |
1.模擬輸入通道:16路,; 2.輸入通道分辨率:12位分辨率,; 3.總采樣率:200kS/s; 4.FIFO: 4K,; 5.模擬輸出通道: 4路; 6.輸出通道分辨率: 12位,; 7.輸出通道更新率: 100 kS/s,; 8.數(shù)字輸入通道:16路; 9.數(shù)字輸出通道:16路,; 10.計(jì)數(shù)器:3個(gè),; 11.計(jì)數(shù)器精度:32位; |
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9 |
半 導(dǎo)體 晶片 與 芯片 探針 測(cè)試臺(tái) |
1.移動(dòng)方向:XYZ,; 2.驅(qū)動(dòng)方式:微分頭,; 3.行程:±6.5mm Z軸:10mm; 4.刻度分辨率:0.01mm,; 5.主要材質(zhì):鋁合金,; 6.隔振平板固有頻率:8-10Hz; 7.探針調(diào)節(jié)臺(tái)XYZ行程:13/13/13mm,; 8.CCD成像顯微鏡:1200萬(wàn)像素,; 9.LED顯示屏:7寸; |
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標(biāo)準(zhǔn) DUT 模塊 |
1. ADC/DAC測(cè)試 2.運(yùn)算放大器測(cè)試 3.晶體管測(cè)試 4.無源器件測(cè)試 5.半導(dǎo)體芯片封裝測(cè)試 6.半導(dǎo)體晶元及成品測(cè)試 |
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模擬 數(shù)字 綜合 電路 實(shí)驗(yàn) 模塊
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·基本放大器電路模塊 單級(jí)放大器,、二級(jí)放大器,、負(fù)反饋放大器、射極跟隨器,、差動(dòng)放大器,、場(chǎng)效應(yīng)管放大器; |
選擇配置 價(jià)格電詢 |
·集成運(yùn)算放大器電路模塊 模擬運(yùn)算電路,、有源濾波器,、電壓比較器; |
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·振蕩器電路模塊 文氏電橋振蕩器,、LC振蕩器,、方波三角波發(fā)生器,; |
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·功率放大器電路與穩(wěn)壓電源電路模塊 集成功率放大器、OTL功率放大器,、串聯(lián)型晶體管穩(wěn)壓電源,、集成穩(wěn)壓器; |
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·基本邏輯電路模塊 邏輯門電路,、組合邏輯電路,、數(shù)據(jù)選擇器、譯碼器,、字段譯碼器,; |
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·綜合數(shù)字電路模塊 計(jì)數(shù)器、移位寄存器,、555定時(shí)器,; |
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·觸發(fā)器電路模塊 基本RS觸發(fā)器電路、JK觸發(fā)器電路,、D觸發(fā)器電路,; |
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信號(hào) 與 系統(tǒng) 實(shí)驗(yàn) 模塊 |
·無源濾波器電路模塊 低通濾波器、高通濾波器,、帶通濾波器,、帯阻濾波器電路; |
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·有源濾波器電路模塊 低通濾波器,、高通濾波器,、帶通濾波器、帯阻濾波器電路,; |
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·四階巴特沃斯濾波器電路模塊 測(cè)量觀察和分析濾波器特性,; |
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·四階古比雪夫濾波器電路模塊 測(cè)量觀察和分析濾波器特性; |
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·信號(hào)分解電路模塊 分解為一,、二,、三、四,、五次諧波,; |
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·信號(hào)合成電路模塊 多次諧波合成方波; |
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·RC移相電路與補(bǔ)償分壓電路模塊 測(cè)量觀察和分析電路特性,; |
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·零輸入響應(yīng)與零狀態(tài)響應(yīng)模塊 測(cè)量觀察和分析電路特性,; |
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·二階網(wǎng)絡(luò)狀態(tài)軌跡的分析模塊 測(cè)量觀察和分析電路特性; |
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·一階,、二階連續(xù)時(shí)間系統(tǒng)模塊 測(cè)量觀察和分析電路特性,; |
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·階躍響應(yīng)與沖激響應(yīng)模塊 測(cè)量觀察和分析電路特性; |
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選配微 電子 實(shí)驗(yàn) 測(cè)試模塊 |
·半導(dǎo)體電阻率及薄層電阻測(cè)試 |
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·半導(dǎo)體霍爾系數(shù)和電導(dǎo)率測(cè)試 |
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·硅光電池特性測(cè)試 |
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·數(shù)字MOSIC功能和動(dòng)態(tài)參數(shù)測(cè)試 |
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·雙極型晶體管直流參數(shù)測(cè)試 |
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·PN結(jié)正向壓降溫度特性測(cè)試 |
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