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數(shù)字源表iv掃描miniled電性能

 
品牌: 普賽斯儀表
尺寸: 425*255*106mm
測(cè)試范圍: 0.3mV-300V/100pA-1A
工作環(huán)境: 25±10℃
單價(jià): 面議
起訂:
供貨總量:
發(fā)貨期限: 自買家付款之日起 3 天內(nèi)發(fā)貨
所在地: 湖北 武漢市
有效期至: 長(zhǎng)期有效
最后更新: 2024-03-28 10:02
瀏覽次數(shù): 553
 
公司基本資料信息
詳細(xì)說(shuō)明
  1. 概述

    LED(全稱為L(zhǎng)ight-emitting diode)是一種能發(fā)光的半導(dǎo)體電子元件。和普通的二極管一樣,,這些半導(dǎo)體材料會(huì)預(yù)先透過(guò)注入或攙雜等工藝以產(chǎn)生p、n架構(gòu),。LED只能夠往一個(gè)方向?qū)ǎㄍ姡?當(dāng)在兩端加載合適的電壓后,,電流可以從p極(陽(yáng)極)流向n極(陰極),而相反方向則不能,。兩種不同的載流子:空穴和電子在不同的電極電壓作用下從電極流向p,、n架構(gòu),。當(dāng)空穴和電子相遇而產(chǎn)生復(fù)合,電子會(huì)跌落到較低的能階,,同時(shí)以光子的模式釋放出能量,,即發(fā)光。經(jīng)過(guò)多年的發(fā)展,,目前LED能夠發(fā)出的光已經(jīng)遍及可見(jiàn)光,、紅外線及紫外線,光度亦提高到相當(dāng)高的程度,,用途覆蓋指示燈,,顯示板,照明等,。

    源表,,SMU(Source Measure Unit)電源/測(cè)量單元,“源”為電壓源和電流源,,“表”為測(cè)量表,,“源表”即指一種可作為四象限的電壓源或電流源提供精確的電壓或電流,同時(shí)可同步測(cè)量電流值或電壓值的測(cè)量?jī)x表,。源表集合電壓源,、電流源、電壓表,、電流表的功能于一身,,廣泛用于各類精密器件的測(cè)量。

  2. 常用測(cè)試參數(shù)

    LED必須在合適的電流電壓驅(qū)動(dòng)下才能正常工作,。其電壓-電流之間的關(guān)系稱為I-V特性,。通過(guò)對(duì)LED電性的測(cè)試可以獲得對(duì)應(yīng)正向電壓(Vf),、反向電壓(Vr)及漏電流Ir)等參數(shù),,以及相應(yīng)的I-V曲線。常用的測(cè)試方法一般為在LED器件的兩端,,加電壓測(cè)試電流,,或者加電流測(cè)試電壓。此外,,還可以根據(jù)客戶要求,,搭配相應(yīng)的光學(xué)測(cè)試系統(tǒng),測(cè)試相應(yīng)的光學(xué)性能,。

      

    Vf正向?qū)妷簻y(cè)試

    正向?qū)妷?,?/span>LED在正常工作電流下測(cè)量的電壓值。當(dāng)加載在LED兩端的工作電壓,低于導(dǎo)通電壓時(shí),,通過(guò)LED的電流極小,,不發(fā)光。當(dāng)電壓超過(guò)該值后,,通過(guò)LED的電流隨電壓迅速增加,,而后LED發(fā)光。常用測(cè)試方法為,,將LED的正極接在高電位端,,負(fù)極接在低電位端,逐漸增加LED的電流(電流值一般為幾mA),,并同時(shí)測(cè)量LED兩端的電壓(電壓值范圍在幾V以內(nèi)),。而后根據(jù)實(shí)際測(cè)試需要,對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行分析,,得到相應(yīng)的Vf值,。

     

    Vr 反向擊穿電壓測(cè)試

    反向擊穿電壓,是所允許加載在LED兩端的最大反向電壓,。當(dāng)二極管兩端的反向電壓超過(guò)Vr后,,反向電流會(huì)急劇增大,二極管將失去單方向?qū)щ娞匦?,這種狀態(tài)稱為二極管的擊穿,。若長(zhǎng)時(shí)間工作電壓超過(guò)Vr,發(fā)光二極管可能被擊穿損壞,。常用測(cè)試方法為,,將LED的正極接在低電位端,負(fù)極接在高電位端,,逐漸增加LED的電流(電流值一般為幾mA),,并同時(shí)測(cè)量LED兩端的電壓(電壓值范圍在幾V以內(nèi))。而后根據(jù)實(shí)際測(cè)試需要,,對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行分析,,得到相應(yīng)的Vr值。由于源表可作為四象限工作的電壓源,,因此,,在測(cè)試時(shí),無(wú)需將接線端反接,。源表內(nèi)部會(huì)自動(dòng)根據(jù)設(shè)定值,,切換輸出端的極性。

     

    Ir漏電流測(cè)試

    漏電流,,指LED處于反向偏置狀態(tài)時(shí),,流過(guò)二極管的微弱反向電流,。此時(shí),LED兩端的電壓低于Vr,。常用的測(cè)試方法為,LED的正極接在低電位端,,負(fù)極接在高電位端,,而后根據(jù)實(shí)際測(cè)試需要,設(shè)定加載在LED兩端電壓,,測(cè)量電流Ir,。

     

  3. 繪制LED I-V特性曲線測(cè)試

  4. 連接

    如下圖所示,選擇合適的夾具,,將LED與S型源表進(jìn)行連接


  5. 測(cè)試步驟

步驟

操作方法

操作界面

選擇掃描模式

【主界面】—>【掃描模式】

 

設(shè)置掃描參數(shù)

根據(jù)實(shí)際測(cè)試需要,,選擇并設(shè)置相應(yīng)的參數(shù)。比如:【掃描類型】,,【限值】,,【掃描模式】,【掃描點(diǎn)】等

 

啟動(dòng)測(cè)試

點(diǎn)擊【開始掃描】,,即可啟動(dòng)測(cè)試

/

測(cè)試數(shù)據(jù)

待測(cè)試完畢后,,會(huì)自動(dòng)根據(jù)測(cè)試結(jié)果繪制I-V曲線,并顯示在屏幕上,。此外,,如果選擇保存【開始掃描】,也可在插入U(xiǎn)盤后,,導(dǎo)出測(cè)試數(shù)據(jù)

 


 

S型源表簡(jiǎn)介

普賽斯S系列高精度源表,,集電壓、電流輸入輸出及測(cè)量等多種功能于一體,。產(chǎn)品最大輸出電壓達(dá)300V,,最小測(cè)試電流達(dá)100pA,分辨率低至10pA,,支持四象限工作,,因此,可廣泛應(yīng)用于各種半導(dǎo)體器件I-V電特性測(cè)試,如半導(dǎo)體IC,,功率半導(dǎo)體器件,,傳感器,LED等,。產(chǎn)品具有如下特點(diǎn):


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