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半導(dǎo)體參數(shù)分析儀1200V/100A

 
品牌: 普賽斯儀表
尺寸: 580mm長*620mm寬*680mm高
工控機(jī): 內(nèi)置品牌專業(yè)工控機(jī)
輸入電源: 220V 50/60Hz
單價(jià): 面議
起訂:
供貨總量:
發(fā)貨期限: 自買家付款之日起 3 天內(nèi)發(fā)貨
所在地: 湖北 武漢市
有效期至: 長期有效
最后更新: 2024-03-28 10:02
瀏覽次數(shù): 171
 
公司基本資料信息
詳細(xì)說明

概述:

SPA-6100半導(dǎo)體參數(shù)分析儀是武漢普賽斯自主研發(fā),、精益打造的一款半導(dǎo)體電學(xué)特性測試系統(tǒng),具有高精度,、寬測量范圍,、快速靈活,、兼容性強(qiáng)等優(yōu)勢。產(chǎn)品可以同時(shí)支持DC電流-電壓(I-V),、電容-電壓(C-V)以及高流高壓下脈沖式I-V特性的測試,,旨在幫助加快前沿材料研究、半導(dǎo)體芯片器件設(shè)計(jì)以及先進(jìn)工藝的開發(fā),,具有桌越的測量效率與可靠性,。

基于模塊化的體系結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),SPA-6100半導(dǎo)體參數(shù)分析儀可以幫助用戶根據(jù)測試需要,,靈活選配測量單元進(jìn)行升級,。產(chǎn)品支持Z高1200V電壓、100A大電流,、1pA小電流分辨率的測量,,同時(shí)檢測10kHz至1MHz范圍內(nèi)的多頻AC電容測量。SPA-6100半導(dǎo)體參數(shù)分析儀搭載普賽斯自主開發(fā)的專用半導(dǎo)體參數(shù)測試軟件,支持交互式手動操作或結(jié)合探針臺的自動操作,能夠從測量設(shè)置,、執(zhí)行,、結(jié)果分析到數(shù)據(jù)管理的整個(gè)過程,實(shí)現(xiàn)高效和可重復(fù)的器件表征;也可與高低溫箱,、溫控模塊等搭配使用,,滿足高低溫測試需求。詳詢一八一四零六六三四七六,;

產(chǎn)品特點(diǎn):

30μV-1200V,1pA-100A寬量程測試能力,;

測量精度高,全量程下可達(dá)0.03%精度;

內(nèi)置標(biāo)準(zhǔn)器件測試程序,,直接調(diào)用測試簡便,;

自動實(shí)時(shí)參數(shù)提取,數(shù)據(jù)繪圖,、分析函數(shù),;

在CV和IV測量之間快速切換而無需重新布線;

提供靈活的夾具定制方案,,兼容性強(qiáng),;

免費(fèi)提供上位機(jī)軟件及SCPI指令集;

典型應(yīng)用:

納米,、柔性等材料特性分析,;

二極管;

MOSFET,、BJT,、晶體管、IGBT;

第三代半導(dǎo)體材料/器件,;

有機(jī)OFET器件,;

LED、OLED,、光電器件,;

半導(dǎo)體電阻式等傳感器;

EEL,、VCSEL,、PD、APD等激光二極管,;

電阻率系數(shù)和霍爾效應(yīng)測量,;

太陽能電池;

非易失性存儲設(shè)備,;

失效分析,;


模塊化構(gòu)成

低壓直流I-V源測量單元

-精度0.1%或0.03%可選
-直流工作模式
-Z大電壓300V,Z大直流1A或3A可選
-最小電流分辨率10pA
-四象限工作區(qū)間
-支持二線,,四線制測試模式
-支持GUARD保護(hù)


低壓脈沖I-V源測量單元

-精度0.1%或0.03%可選
-直流、脈沖工作模式
-Z大電壓300V,Z大直流1A或3A可選,,Z大脈沖電流10A或30A可選
-最小電流分辨率1pA
-最小脈寬200μs
-四象限工作區(qū)間.
-支持二線,,四線制測試模式
-支持GUARD保護(hù)

高壓I-V源測量單元

-精度0.1%            
-Z大電壓1200V,Z大直流100mA

-最小電流分辨率100pA
-一、三象限工作區(qū)間
-支持二線,、四線制測試模式
-支持GUARD保護(hù)

高流I-V源測量單元

-精度0.1%
-直流,、脈沖工作模式.
-Z大電壓100V,Z大直流30A ,Z大脈沖電流100A
-最小電流分辨率10pA

-最小脈寬80μs
-四象限工作區(qū)間
支持二線,、四線制測試模式
-支持GUARD保護(hù)

電壓電容C-V測量單元

-基本精度0.5%
-測試頻率10hZ~1MHz,,可選配至10MHz
-支持高壓DC偏置,Z大偏置電壓1200V
-多功能AC性能測試,,C-V,、 C-f、 C-t


硬件指標(biāo)-IV測試

半導(dǎo)體材料以及器件的參數(shù)表征,,往往包括電特性參數(shù)測試,。絕大多數(shù)半導(dǎo)體材料以及器件的參數(shù)測試,都包括電流-電壓(I-V)測量,。源測量單元(SMU)             ,,具有四象限,多量程,,支持四線測量等功能,,可用于輸出與檢測高精度、微弱電信號,,是半導(dǎo)體|-V特性測試的重要工具之-,。SPA-6100配置有多種不同規(guī)格的SMU,如低壓直流SMU,低壓脈沖SMU,大電流SMU,。用戶可根據(jù)測試需求靈活配置不同規(guī)格,以及不同數(shù)量的搭配,實(shí)現(xiàn)測試測試效率與開支的平衡,。


靈活可定制化的夾具方案

針對市面上不同封裝類型的半導(dǎo)體器件產(chǎn)品,普賽斯提供整套夾具解決方案,。夾具具有低阻抗、安裝簡單,、種類豐富等特點(diǎn),,可用于二極管、三極管,、場效應(yīng)晶體管,、IGBT、SiC  MOS,、GaN等單管,,模組類產(chǎn)品的測試;也可與探針臺連接,實(shí)現(xiàn)晶圓級芯片測試,。



 


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